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GB/T 28893-2024《表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息》

Surface chemical analysis—Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy—Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results

标准类型:国家标准

标准属性:推荐性

标准状态:现行

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国家标准《表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息》由TC608(全国表面化学分析标准化技术委员会)归口,主管部门为中国科学院。

主要起草单位厦门荷清教育咨询有限公司、厦门大学。

主要起草人徐富春 、时海燕 、岑丹霞 、汤丁亮 、刘芬 、王水菊 。

基础信息

标准号:GB/T 28893-2024发布日期:2024-03-15实施日期:2024-10-01全部代替标准:GB/T 28893-2012标准类别:方法中国标准分类号:G04国际标准分类号:71.040.40 归口单位:全国表面化学分析标准化技术委员会执行单位:全国表面化学分析标准化技术委员会主管部门:中国科学院

采标情况

本标准等同采用ISO国际标准:ISO 20903:2019。采标中文名称:表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息。

起草单位

厦门荷清教育咨询有限公司厦门大学

起草人

徐富春时海燕刘芬王水菊岑丹霞汤丁亮

相近标准(计划)

GB/T 28632-2012 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率测定GB/T 21006-2007 表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标的线性GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定GB/T 41073-2021 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求GB/T 41064-2021 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法20232363-T-469 表面化学分析X射线光电子能谱均匀材料中元素检测限的评估和报告GB/T 30702-2014 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南SJ/T 10458-1993 俄歇电子能谱术语和X射线光电子谱术语的样品处理标准导则GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告GB/T 32998-2016 表面化学分析俄歇电子能谱荷电控制与校正方法报告的规范要求

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独立公正立场

严格按照法律法规和行业标准行事,不受任何外部干扰,真实反映实际情况,出具的检测报告具有权威性和公信力。

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